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一、特點(diǎn)
☆ 屬于亞微米級材料,線路板封裝填充材料,也適用于狹窄間距密封 。
☆ 微粒子增加了其比表面積,少量添加即可發(fā)揮良好效果。
☆ 對銅離子和銀離子捕捉效果好,最適合銅焊線、銀配線的封裝。
☆ 雙離子交換型,能在較寬的PH值范圍發(fā)揮離子捕捉效果
☆ 雜質(zhì)少,對封裝材料幾乎沒有不良影響
☆ 不包含RoHS限用物質(zhì)
二、工作機(jī)理
捕捉封裝材料中的雜質(zhì)離子,提高電子材料的可靠性
三、離子捕捉劑效果
● 在IC封裝材料中添加IXEPLAS,捕捉封裝材料中的雜質(zhì)離子。
● IXEPLAS本身幾乎不釋放雜質(zhì)離子。
四、應(yīng)用舉例
★ 對鋁制配線腐蝕的抑制
● 在封裝樹脂中添加IXEPLAS抑制配線的腐蝕,具有提高可靠性的效果
● 粒徑更小,少量添加即可發(fā)揮良好效果。
鋁制配線的腐蝕試驗(yàn)
無添加 IXEPLAS-A1 0.2部
◆鋁制配線的電阻上升率 在半導(dǎo)體整體封裝時(shí),由于封裝樹脂中的游離的氯離子會(huì)腐蝕配線,因此,配線的電阻上升。 在封裝樹脂中添加IXEPLAS,可以捕捉氯離子,抑制腐蝕,電阻值幾乎沒有上升。 |
試驗(yàn)條件:
● 在雙酚環(huán)氧樹脂中添加IXEPLAS,在鋁制配線上涂覆、硬化(配線寬度20μm、配線間距20μm)。
● 在130度,85%RH,20V條件下進(jìn)行Pressure Cooker Test 試驗(yàn), 觀察20小時(shí)后鋁制配線的狀況。
★ 抑制銅配線的遷移抑制試驗(yàn)
● IXEPLAS對銅離子的捕捉效果好,能夠抑制銅離子的遷移
● 最適合銅 Bonding Wire(電極線?)和銅配線的封裝。
● 對銀布線的遷移具有抑制效果
銅配線的遷移抑制試驗(yàn)
無添加 IXEPLAS-A1 2.0部
試驗(yàn)條件
● 環(huán)氧丙烯酸酯+聚氨酯丙烯酸酯98份,IXEPLAS-A1 2份
● 配線寬度50μm,配線間距50μm
● 耐濕負(fù)荷試驗(yàn) (85℃,85%RH,50V,500小時(shí))
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